主頁(yè) > 技術(shù)文章 > 電工電子分層實(shí)驗(yàn)--集成邏輯門(mén)的功能測(cè)試 2021-12-02

電工電子分層實(shí)驗(yàn)--集成邏輯門(mén)的功能測(cè)試

任務(wù)：
一、完成“與非”門(mén)、“或非”門(mén)的邏輯功能測(cè)試和門(mén)控制功能實(shí)驗(yàn)，應(yīng)用邏輯門(mén)實(shí)現(xiàn)簡(jiǎn)單的組合邏輯電路。（C類）
（1）完成TTL“與非”門(mén)74LS00的邏輯功能及輸入輸出端電平的測(cè)試，將測(cè)試結(jié)果記錄于表1中。
（2）完成CMOS“或非”門(mén)CD4001邏輯功能和門(mén)的控制功能測(cè)試，將邏輯功能測(cè)試結(jié)果記錄于表1中，記錄門(mén)控制功能實(shí)驗(yàn)的輸入輸出波形。
（3）用1片TTL“與非”門(mén)74LS00芯片實(shí)現(xiàn)“異或”運(yùn)算，并進(jìn)行邏輯功能測(cè)試，將測(cè)試結(jié)果記錄于表1中。用“與非”門(mén)實(shí)現(xiàn)“異或”運(yùn)算的邏輯表達(dá)式為：

，邏輯電路圖如圖1所示。
表1 門(mén)電路邏輯功能及“與非”門(mén)輸入輸出電平測(cè)試實(shí)驗(yàn)結(jié)果

邏輯關(guān)系測(cè)試結(jié)果		輸入輸出電平測(cè)試結(jié)果
A	B	A端電平值（V）	B端電平值（V）	端電平值（V）
0	0
0	1
1	0
1	1

圖1用“與非”門(mén)實(shí)現(xiàn)“異或”運(yùn)算的電路圖

二、用2片74LS00設(shè)計(jì)一個(gè)能實(shí)現(xiàn)“同或”運(yùn)算的電路，并對(duì)電路進(jìn)行邏輯功能測(cè)試，自行列表記錄邏輯功能測(cè)試結(jié)果。（B類）
三、用1片CD4001設(shè)計(jì)一個(gè)能實(shí)現(xiàn)“同或”運(yùn)算的電路，并對(duì)電路進(jìn)行邏輯功能測(cè)試，自行列表記錄邏輯功能測(cè)試結(jié)果。（A類）

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